KARAKTERISASI NANOMATERIAL: Teori, Penerapan, dan Pengolahan Data

Kulit muka buku

Ini adalah sebuah judul buku (ISBN 978-602-97181-0-2 & Penerbit: CV Rezeki Putra Bandung) yang ditulis oleh Mikrajuddin Abdullah dan Khairurrijal berdasarkan pengalaman keduanya dala usaha mengembangkan riset bidang nanomaterial dalam berbagai keterbatasan. Namun, dengan komitmen yang kuat, kreativitas dan inovasi yang tinggi, kedua penulis mampu mengatasi sejumlah kendala yang membatasi tersebut. Buku ini telah diluncurkan tepat saat pelaksanaan the 3rd Nanoscience and Nanotechnology Symposium di Bandung pada tanggal 16 Juni 2010 lalu.

Apa saja kandungan buku ini? Di bagian pendahuluan, buku ini menjelaskan pengertian nano dan keunikan sifat-sifat material dalam dimensi nanometer serta tujuan buku ini. Di dalam bab-bab berikutnya, buku ini menjelaskan tiga jenis karakterisasi utama sifat-sifat material: struktur/fisik, optik, dan elektronik. Karakterisasi sifat struktur/fisik material diberikan dalam enam bab, yang meliputi: SEM (Scanning Electron Microscope), TEM (Transmission Electron Microscope), XRD (X-Ray Diffractometer), AFM (Atomic Force Microscope), metode BET (Brunauer-Emmett-Teller), dan DMA (Differential Mass Analyzer). Sifat optiknya dijelaskan dalam bab karakterisasi dengan spektrometer UV-Vis (Ultra-Violet-Visible). Karakterisasi transport elektroniknya diberikan dalam dua bab tentang I-V meter dan C-V meter.

Kulit belakang buku

Selanjutnya, buku ini juga dilengkapi dengan fitur-fitur praktis yang sangat berguna bagi para peneliti dan juga mahasiswa. Ada sebuah bab yang khusus menjelaskan pengolahan kurva menjadi data menggunakan perangkat lunak Paint yang tersedia di Windows dan Origin. Di setiap bab lain yang terkait karakterisasi, ada juga pengolahan kurva sehingga menjadi data yang bermanfaat untuk menjelaskan sifat-sifat nanomaterial yang diteliti. Interpretasi fisis dari kurva-kurva yang diperoleh juga diberikan di dalam bab-bab tersebut.